東芝ナノアナリシス株式会社
従業員数 253人
設備検査・測定機放射線検査装置非破壊検査装置
対応可能な材料エポキシ樹脂その他アルミナ
東芝ナノアナリシス株式会社の概要
半導体、液晶、金属、新素材を中核とした幅広い業界向けに、ナノレベルの微細加工、分析、解析サービスを提供しています。信頼性評価や環境安全化学分析、各種ソリューションも手がけています。お客様の先端技術革新を支援し、豊かな未来づくりに貢献しています。
東芝ナノアナリシス株式会社の事業内容
ナノ構造解析、表面分析、半導体解析、半導体パッケージ・実装解析、信頼性・非破壊観察、環境安全化学分析
東芝ナノアナリシス株式会社の設備情報
| 設備 | メーカー | 特徴・能力 | 保有台数 |
|---|---|---|---|
| 3DAP(APT) | - | - | - |
| TOF-SIMS | - | - | - |
| リフロー装置 | - | - | - |
| ICP-MS | - | - | - |
| GC/TCD | - | - | - |
| GC/MS | - | - | - |
| TPD-MS | - | - | - |
| TG-DTA | - | - | - |
| GC/FPD | - | - | - |
| ICP-MS | - | - | - |
| HPLC/ECD | - | - | - |
| EPMA | - | - | - |
| Py-GC/MS | - | - | - |
| LC/MS/MS | - | - | - |
| SAT | - | - | - |
| 3次元X線顕微鏡 | - | - | - |
| XPS | - | - | - |
| XPS | - | - | - |
| 低加速SEM | - | - | - |
| IC | - | - | - |
| 低加速SEM | - | - | - |
| TEM | - | - | - |
| 3次元X線顕微鏡 | - | - | - |
| ED-μXRF | - | - | - |
| SEM | - | - | - |
| GC/MS | - | - | - |
| TEM | - | - | - |
| X線照射装置 | - | - | - |
| SAM | - | - | - |
| SEC | - | - | - |
| 温度サイクル試験槽(気槽式) | - | - | - |
| 低加速SEM | - | - | - |
| 透過X線観察装置 | - | - | - |
| XRD | - | - | - |
| 3次元X線顕微鏡 | - | - | - |
| 磁場顕微鏡 | - | - | - |
| GC/MS | - | - | - |
| XPS | - | - | - |
| LC/MS/MS | - | - | - |
| 透過X線観察装置 | - | - | - |
| HPLC/UV | - | - | - |
| 3DAP(APT) | - | - | - |
| HPLC/UV | - | - | - |
| STEM | - | - | - |
| XPS | - | - | - |
| TPD-MS | - | - | - |
| OBIRCH | - | - | - |
| HPLC/蛍光 | - | - | - |
| カーブトレーサ | - | - | - |
| TOF-SIMS | - | - | - |
| GC/FID | - | - | - |
| ED-XRF | - | - | - |
| LC/TOF-MS | - | - | - |
| ICP-MS | - | - | - |
| 恒温試験槽(高温・低温) | - | - | - |
| IC | - | - | - |
| HPLC/UV | - | - | - |
| FT-IR | - | - | - |
| GC/MS | - | - | - |
| XRF | - | - | - |
| OM | - | - | - |
| IC | - | - | - |
| SAM | - | - | - |
| SIMS | - | - | - |
| PEM(EMS) | - | - | - |
| IC | - | - | - |
| AFM | - | - | - |
| FT-IR | - | - | - |
| GC/FID | - | - | - |
| TG-DTA | - | - | - |
| GC/MS | - | - | - |
| GC/FID | - | - | - |
| 断面/表面研磨 | - | - | - |
| GC | - | - | - |
| イオンミリング(断面/表面) | - | - | - |
| 半導体パラメータアナライザ | - | - | - |
| TG-DTA/MS | - | - | - |
| GC/TCD | - | - | - |
| イオンミリング | - | - | - |
| LC/MS/MS | - | - | - |
| 急速温度変化試験槽 | - | - | - |
| HPLC/蛍光 | - | - | - |
| GC/MS | - | - | - |
| XRR | - | - | - |
| ICP-OES | - | - | - |
| FIB | - | - | - |
| GC/FPD | - | - | - |
| HAXPES | - | - | - |
| SCM | - | - | - |
| TDS | - | - | - |
| OM | - | - | - |
| LC/MS/MS | - | - | - |
| GC/MS | - | - | - |
| LC/MS/MS | - | - | - |
| STEM | - | - | - |
| STEM | - | - | - |
| 恒温恒湿試験槽/温湿度サイクル試験槽 | - | - | - |
| LC/MS/MS | - | - | - |
| TOF-SIMS | - | - | - |
| ICP-OES | - | - | - |
| LC/TOF-MS | - | - | - |
| TMA | - | - | - |
| TEM | - | - | - |
| GC/MS | - | - | - |
| EPMA | - | - | - |
| EPMA | - | - | - |
| SEC | - | - | - |
| Py-GC/MS | - | - | - |
| ICP-OES | - | - | - |
| TEM | - | - | - |
| Raman | - | - | - |
| EPMA | - | - | - |
| カーボンエアロゾル装置 | - | - | - |
| XRF | - | - | - |
| SWA-GC/MS | - | - | - |
| TG-DTA | - | - | - |
| HAXPES | - | - | - |
| TEM | - | - | - |
| GC/MS | - | - | - |
| IC | - | - | - |
| STEM | - | - | - |
| TEM | - | - | - |
| 万能強度試験装置 | - | - | - |
| ダイヤモンドワイヤーソー | - | - | - |
| ICP-MS | - | - | - |
| SIMS | - | - | - |
| ICP-OES | - | - | - |
| TMA | - | - | - |
| TPD-MS | - | - | - |
| ガス分析(酸素・窒素/炭素・硫黄) | - | - | - |
| 3DAP(APT) | - | - | - |
| GC/MS | - | - | - |
| SAT | - | - | - |
| IC | - | - | - |
| SEM | - | - | - |
| IC | - | - | - |
| GC/TCD | - | - | - |
| TG-DTA/MS | - | - | - |
| 熱衝撃試験槽(液槽式) | - | - | - |
| SAT | - | - | - |
| TEM | - | - | - |
| パルスジェネレータ | - | - | - |
| HAST槽 | - | - | - |
| SEM | - | - | - |
| IC | - | - | - |
| SAM | - | - | - |
| XRD | - | - | - |
| LC/MS/MS | - | - | - |
| HPLC/蛍光 | - | - | - |
| FT-IR | - | - | - |
| FT-IR | - | - | - |
| Raman | - | - | - |
| TG-DTA/MS | - | - | - |
| DSC | - | - | - |
| SPM | - | - | - |
| SIMS | - | - | - |
| SAXS | - | - | - |
| LC/MS/MS | - | - | - |
| ALD | - | - | - |
| ICP-MS | - | - | - |
| HPLC/蛍光 | - | - | - |
| TDS | - | - | - |
| DSC | - | - | - |
| Raman | - | - | - |
| OM | - | - | - |
| SEM | - | - | - |
| XPS | - | - | - |
| ダイシングソー | - | - | - |
| TDS | - | - | - |
| TG-DTA | - | - | - |
| TEM | - | - | - |
| STEM | - | - | - |
| HPLC/UV | - | - | - |
| TG-DTA/MS | - | - | - |
| 曲げ試験装置 | - | - | - |
| AFM | - | - | - |
| TOF-SIMS | - | - | - |
| SEM | - | - | - |
東芝ナノアナリシス株式会社の詳細情報
- 従業員数
- 253名
- 郵便番号
- 〒212-0001
- 住所
- 神奈川県川崎市幸区小向東芝町1
- 公式サイト
- https://www.nanoanalysis.co.jp/
東芝ナノアナリシス株式会社の沿革
| 1981年 | 東芝マイコンエンジニアリング株式会社 設立 |
|---|---|
| 1982年 | 東芝電子デバイスエンジニアリング株式会社 設立 |
| 1983年 | 分析・解析業務スタート |
| 1984年 | 信頼性ラボラトリー解析ラボ、評価ラボ担当発足 |
| 1989年 | 東芝マイクロエレクトロニクス株式会社に社名変更(現、東芝デバイスソリューション株式会社) |
| 1991年 | 東芝電子エンジニアリング株式会社に社名変更(現、東芝デベロップメントエンジニアリング株式会社) |
| 1994年 | 東芝マテリアルエンジニアリング株式会社 分析部門と統合 |
| 1995年 | 分析評価センターを設立 |
| 1999年 | 信頼性統括部発足 解析センター、信頼性ラボとの2部体制へ |
| 2000年 | ISO 9001認証取得 |
| 2001年 | 信頼性統括部がナノテックス社として社内分社化 |
| 2002年 | 東芝ナノアナリシス株式会社設立 |
| 2006年 | ISO/IEC 17025認定取得(電気試験) |
| ジャパン・エア・ガシズ株式会社(現、日本エア・リキード合同会社)が資本参加 | |
| 2009年 | OHSAS 18001認証取得 |
| 2011年 | ISO/IEC 17025認定取得(化学試験) |
| 2012年 | 創立10周年を迎える |
| 2021年 | ISO 45001認証取得(OHSAS 18001からの移行認証) |
| 2022年 | 創立20周年を迎える |